本装置は非破壊検査であり、材料の相転移温度と熱膨張係数を同時に測定することができる。OPAの研究開発に成功し、一挙に*補
ナノスケールの薄膜材料の相転移温度と熱膨張係数を非破壊的に検出する性技術の空白を検出し、5 nmまで低い薄膜材料を測定することができる。
本装置は複数の発明を有し、独立した知的財産権を有する。