本製品は準動態測定法を採用し、同時に薄膜材料のseebeck係数と抵抗率を測定でき、温度測定範囲は
80K〜600K

ハードウェアの特徴
動的法によるseebeck係数の測定は、静的法による温度差測定上のシステム誤差を回避し、より正確に測定する

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双方向加熱システムを採用して、テストの不良点が現れて、再テストすることができます
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seebeck係数と抵抗率測定測定は電圧プローブを共用せず、マイクロ熱電対破壊の故障の問題を避ける
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ソフトウェアは操作が簡単で、インテリジェント化は手動、自動モードを実現することができる