本装置は準動態法（技術を有する）と4プローブ針法を用いてそれぞれサンプルのseebeck係数と抵抗率を測定する。いいえ
半導体バルク試料、銅、ニッケル、ビスマスなどの金属半金属試料、黒鉛、炭素材料などの非金属試料の測定にのみ使用できる
seebeck係数と抵抗率、また薄膜（ナノメートル）試料のseebeck係数と抵抗率を測定することができる。

*メリット
独立した知的財産権を持ち、多くの技術を獲得している。
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動的法はseebeck係数を測定し、伝統的な静的測定法の温度差測定におけるシステム誤差を回避し、測定はより正確である、
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seebeck係数と抵抗率測定は電圧プローブを共用せず、マイクロ熱電対破壊の故障の問題を避ける、
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双方向加熱システムを採用する、
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自動パワーダウン保護、
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フィルムアタッチメント（本体不要、直接使用）が付いており、フィルム材料の常温でのseebeck係数と抵抗率を直接測定することができる。