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青島森泉光電有限公司
国産分光計の性能は複数の精密光学と電子モジュールの高度な集積と協同最適化に由来する
日付：2025-12-18読む:0
国産分光計は現代の光学検査、科学研究分析と工業監視制御の重要な計器であり、サブナノメートル級の分解能（0.02 nmに達することができる）で光信号の波長、強度と輪郭を正確に捉えることができ、レーザーキャラクタリゼーション、蛍光スペクトル、プラズマ診断、環境監視測定及び生物医学イメージングなどの分野に広く応用されている。国産分光計の性能は、複数の精密光学と電子モジュールの高度な集積と協同最適化に由来する。
一、スリットとアライメントシステム
入射スリット（通常5〜100μmオプション）は、スペクトル分解能を決定する。スリットが狭いほど分解能は高くなるが、光束は低下する。光はスリットを通過した後、高精度の非球面または放物面反射鏡によって平行光束にコリメートされ、後続の分散が均一であることを確保し、収差を減少させる。
二、高目盛密度格子
ホログラフィーまたはスクライブ平面/凹面回折格子を用いて、スクライブ密度は1200-2400 lines/mmに達し、複合光を波長によって細かく分離する。一部のモデルは二重格子回転塔を搭載し、異なる帯域（例えば200-400 nm紫外線と400-1100 nm可視近赤外線）を切り替えることができ、広いスペクトルカバーと高分解能を両立する。
三、集束光学と検出器
分散後のスペクトルはフォーカスミラーを介して検出器の焦点面に投影される。高解像度モデルは一般的にバックライト式CCDまたはsCMOSセンサを採用し、高量子効率（>90%）、低暗電流（<0.001 e/pix/s）と深さ冷凍（–10℃から–40℃）を備え、信号対雑音比と弱い光検出能力を大幅に向上させる。
四、光ファイバインタフェースと光学結合
SMA 905またはFC/PCファイバインタフェースを標準装備し、積分球、プローブ、顕微鏡などの各種サンプリングアタッチメントに対応しています。最適化されたファイバ−スリット結合設計は、サンプルから分光計への効率的な伝送を確保するために、光エネルギー損失を最小限に抑えます。
五、組み込み型制御とソフトウェアシステム
内蔵FPGAまたはARMプロセッサはリアルタイムデータ収集と前処理を実現する、セットソフトウェアは自動波長校正（水銀アルゴンランプ参照）、暗背景控除、ピーク識別、マルチスペクトル重畳及びAPI二次開発をサポートし、科学研究と工業自動化の需要を満たす。