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PerkinElmer Enterprise Management (Shanghai) Co., Ltd
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instrumentb2b>ソリューション>NexION 5000 SP-ICP-MSを用いた半導体級硫酸中の金属ナノ粒子の分析
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誘導結合プラズマ質量分析(ICP−MS)は多元素検出技術として、感度が高く、サンプルタイプが柔軟(気体、液体と固体)で、測定速度が速く、線形動的範囲が広いなどの利点がある。単一粒子モードで動作するICP−MS(SP−ICP−MS)は、無機成分、濃度、粒子径、粒子径分布、凝集などの様々なナノ粒子特徴を測定し、測定するための強力な技術であることが証明されている。