環境要因はテスターの安定した運転を保障する基礎である。温度変動は機器内部の光学素子の性能に直接影響し、例えばよく使用されるX線蛍光分光器（XRF）を検出し、その検出器は温度が20-25℃の最適範囲を超えると、感度が5%-15%低下し、カドミウム、鉛などの重金属元素の検出限界が上昇する、湿度が基準値を超える（65%RHより高い）と回路の湿気短絡を引き起こしやすく、機器の寿命を短縮するだけでなく、検査データのドリフトを引き起こす可能性がある。また、電磁干渉もステルスの「キラー」であり、実験室周辺に高周波溶接機、大型変圧器などの大電力設備が存在する場合、その発生した電磁放射は計器の信号伝送を妨害し、測定結果の相対標準偏差（RSD）を3%の合格閾値を超えさせる。そのため、規範的な実験室は恒温恒湿システムと電磁遮蔽装置を配備する必要があり、同時に器具の近くに揮発性試薬を置くことを避け、腐食性ガスが光学部品を浸食することを防止する。

設備校正はテスターの精度を維持する核心手段である。計器は長期使用中に、振動、部品の老化などの影響を受けて、検査基準は次第にずれて、もし定期的に校正していないならば、“合格誤審は不合格”あるいは“基準を超えて検査漏れ”の深刻な問題が現れるかもしれない。校正は「三級校正システム」に従う必要がある：毎日電源を入れた後、標準参考物質（例えばNIST標準サンプル）を用いて単点校正を行い、器具が正常な動作状態にあることを確保する、毎月多点線形校正を展開し、常用検査濃度範囲（例えば鉛0.1～1000 ppm）をカバーし、曲線偏差を修正する、毎年第三者計量機構に全面的な校正を依頼し、ISO/IEC 17025規格に適合する校正証明書を発行し、量値追跡の正確性を確保する。注目すべきは、X線管、検出器などの重要な部品を交換した後、部品の違いによる精度のばらつきを避けるために、すぐにキャリブレーションを行う必要があることです。

サンプル処理はROHS 2.0テスターの検査結果の正確性を確保するための前置きの鍵である。試料の前処理が適切でないと誤差が直接導入され、例えば試料表面に油汚れ、コーティングが存在すると、X線と測定対象元素の作用を阻害し、検査結果が低くなる、サンプル粒子が大きさや不均一を過ぎると、局所領域の有害物質が検出されないように「死角検出」を引き起こす。規範的なサンプル処理プロセスには、まず無水エタノールでサンプル表面を拭き、油汚れと不純物を除去すること、コーティングされたサンプルについては、サンドペーパーまたはカッターでコーティングをはがす必要があり、基材のみを残して検査を行う。サンプルを1-3 cmの小塊に切断し、粒子の均一性を確保し、そして研磨機を通じてサンプルを粉末に研磨し、サンプルの均一性と検査の代表性を高めた。また、サンプル秤量は0.1 mgまで正確に行う必要があり、サンプル量不足による検出信号の微弱化、精度への影響を回避する。