日立XRFめっき層厚測定器新型FT 230

FT 230デスクトップXRFアナライザの設計により、測定する時間が大幅に削減されました。日立エンジニアは、サンプルの設定や測定レシピの選択に多くの時間がかかることを認識し、プロセス中により多くの部品を分析できるように効果的に「設定」することができる画期的なアナライザを発売した。

自動化と革新的なソフトウェアがFT 230アナライザの特徴です。Find My Partなどのインテリジェント識別モジュール™（私のサンプルを探す）とは、操作者がサンプルを積載し、部品を確認するだけで、FT 230は残りのことを処理することを意味します。大規模な基材であっても、部品に正しい測定位置が見つかります。正しい分析プログラムを選択し、結果を品質システムに送信します。時間と人為的なミスを減らすことで、より短い時間でより多くの分析を行うことができ、忙しい生産環境の中で100%の検査をより現実的にすることができます。