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Funa Scientific Instruments (Shanghai) Co., Ltd
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特別招請司特爾専門家の共有:電子半導体業界のサンプル製造と故障分析技術
日付:2025-06-09読み:2

電子半導体業界では、サンプル製造は故障分析にとって極めて重要である。ステルが提供するサンプル製造設備、例えば精密切断、真空浸漬インサート、機械研磨投げは、サンプル分析前の最適な処理効果を確保する。アルゴンイオン研磨装置を使用すると、試料に応力のない研磨または切削処理を行うことができ、後続の走査電子顕微鏡の高分解能と高速な分析を容易にし、材料のミクロ構造と性能を深く分析し、故障の原因を探すことができる。

今回の会議は特に司特爾応用専門家を招き、業界最先端技術の共有、実際の事例分析を通じて、参加者の専門技能の向上を助け、電子半導体業界の技術革新と産業のグレードアップを推進する。誠にご出席をお招きします。

会議のテーマ

電子半導体サンプルの製造と故障分析ネットワークワークショップ

会議時間

2025年6月18日14:00-15:30

参加方式

下のQRコードを識別すれば応募でき、無料で参加できます


特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

ワークフロー

1.スケルトンSecotom精密切断機

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2.スティルCitoVac冷インサート真空浸漬器

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

3.スケルトンTegramin-30自動研磨機

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

4.Technoorg Linda SMARTイオン研磨器

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

5.フェナー卓上電界放出走査電子顕微鏡

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

導入事例

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

司特爾Struersを用いて多層セラミックコンデンサを切断、インサート、研磨・放電装置で処理した結果。サンプルは全体的に平坦性がよく、磁器体の縁に明らかな割れとはがれがなく、外部金属層に明らかな傷がなく、各層の界面がはっきりしている。

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

Technoorg Lindaイオン研磨器を用いてMLCC電極を処理した後、飛納卓上電界放出電子顕微鏡のエネルギースペクトル分析を結合し、MLCC内電極に酸化現象が存在することを発見した。

スティテル・ストラーズについて

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术

司特爾Struersは1875年に設立され、主に金相切断、インサート、研磨、研磨、硬度試験などの設備を含む金相サンプリング設備及び消耗品の研究開発と生産に専念している。製品は広範に品質制御、故障分析と新材料の研究開発に応用され、自動車、電子、宇宙航空、冶金、大学科学研究などの分野でずっと業界地位にあり、完全で効率的な解決方案を蓄積した。

電子半導体サンプルの製造と失効分析技術についての共同検討を期待しており、このネットワークワークショップはあなたに貴重な知識と啓発をもたらすと信じています。いつもご支持とご注目ありがとうございます。ご参加をお待ちしています。インターネットセミナーに参加したり、生中継したりして、素敵なプレゼントが送られてきますよ!

特邀司特尔专家分享:电子半导体行业样品制备和失效分析技术