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Daimei Instrument Technology Service (Shanghai) Co., Ltd
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    marketing@dymek.com

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    上海市浦東金高路2216弄35号6棟306-308室

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この顧客は中国東北部の中国科学院単位であり、主な研究分野:先進的な材料に焦点を当てている。先進材料分野の配置先進材料設計、先進構造材料、先進複合材料、先進機能材料とデバイス、先進エネルギー材料とデバイス、電気分析機器などの6つの主要な研究方向、この単位は複数の国重実験室を持っている、国務院学位委員会が修士、博士の育成とポストドクター流動ステーションの設立を許可した単位の一つであり、中国科学院博士生の重点育成基地である。






FR-ES膜厚測定器は波長範囲が370-1020 nmの可視光干渉測定を採用し、12 nm-100 um範囲の膜層厚を測定でき、精度は0.1%または1 nmに達し、精度は0.05 nmで、性価格比が高い膜厚測定装置である。


付属品は次のとおりです。

フィルタ--適用可能なレジスト

FR-マイク--ミクロンレベル領域測定用

手/じどうステージ--100x100ミリメートルまたは200x200mm

薄膜(はくまく)/カップホルダ--吸収率/透過率と化学濃度測定

せきぶんきゅう--拡散と全反射に使用

API--二次ソフトウェア開発

コンタクトプローブ--STは曲げ試料の反射率膜厚測定のための付属品である


異なるモジュールの組み合わせにより、最終設定はユーザーの任意のニーズを満たすことができます。