卓上電動遠心分離機熱亀裂の発生はすべて溶接金属中の樹枝状結晶の境界に沿って発生し、発展した。zuiは、溶接ビードの中間で溶接ビードの長手方向に沿って亀裂することがよくあり、溶接ビードの内部で2つの樹枝状結晶粒の間に分布することがある。

　　卓上電動遠心分離機熱クラックはすべて粒界で発生し、溶接の結晶化過程で粒界が「弱い地帯」であることを示している。このような脆弱地帯を形成する理由は、金属結晶化過程において、脆性不純物が粒界に多く富化し、しかもこれらの不純物はいずれも低い溶融温度を持っているからである。例えば、溶接された金属の硫黄含有量が高い場合はFeSを形成することができ、FeSと鉄は988度の低融点共晶を形成することができる。例えば、溶接金属による凝固過程の後期には、低融点共晶が粒界に押し出され、いわゆる「液体中間層」を形成する。金属が液体から固体へ移行する過程で、体積収縮により溶接ビードに引張応力が加わった。引張応力の作用により、この液状中間層に亀裂、すなわち熱亀裂が形成される可能性がある。

そのため、卓上電動遠心分離機熱クラックが発生する原因は、溶接が液状中間層の存在を受け、結晶化中に溶接が引張応力の作用を受けることである。液体間隙の存在は熱亀裂の発生の根本的な原因であり、引張応力は熱亀裂の必要条件である。以上の分析から、結晶化過程全体で熱亀裂が発生するわけではなく、結晶化過程の後期にのみ固相線付近で熱亀裂が発生する危険な温度域であることが分かった。