走査型電子顕微鏡の使用中に、次のような問題に常に遭遇していませんか。

1.異なるデバイス間でサンプルを切り替えるためには、総所要時間がかかり、関心領域の再配置に時間がかかる

2.大面積高解像度画像の取得に常に悩み、頻繁に撮像パラメータを切り替え、非点収差フォーカスを調整する必要がある

3.画像を得た後、画像の量子化分析に悩んでいる

以上の悩みとニーズに対して、蔡司は走査型電子顕微鏡を新たに武装し、特にスマート電子顕微鏡ソリューションを発売し、上記のすべての問題を解決し、日常的な検査と分析作業の円滑さと効率を確保します。

関連位置決め解析

蔡司Connectモジュールは光学顕微鏡から走査電子顕微鏡へのブリッジを容易に実現し、異なる機器間でのサンプルの再配置を迅速に実現し、関連機器のデータと情報を統一的に管理することもできる

➊関連位置決め：関連サンプルテーブルを通じて異なる顕微鏡装置間でサンプルを自動関連再位置決めし、操作作用を大幅に削減する場合

➊データ重畳：携帯電話、光学顕微鏡、走査電子顕微鏡からの情報及び関連エネルギースペクトル情報の自由重畳

➊統合管理：異なる関連機器からのデータを管理し、異なる情報の重畳画像とビデオを出力する

PCB基板の関連顕微鏡分析（光学ミラー、電子ミラー、スペクトル情報）、左：マクロ画像、右：関心のある位置のローカル拡大

自動イメージング

蔡司SmartSEM Touchカスタマイズソフトウェアは、パラメータ設定、イメージング、自動パズル、画像閲覧を全面的に両立し、インテリジェントで効率的な走査電子顕微鏡イメージングを実現する

»ウィザード式の操作プロセス、インターフェースが簡潔で操作が簡単

➊サンプルのインテリジェントマッチングイメージングパラメータに基づいて、オートフォーカスを実現する

»簡単な操作で高スループット画像の撮影と分割を完了することができます

スマートSEM Touchのシンプルな操作インタフェース

量子化解析

蔡司ZENモジュールは電子顕微鏡画像取得、画像処理、画像分割、自動測定から報告生成までの量子化分析フロー全体を実現する

➊スキャンされた電子顕微鏡画像をワンクリックで取得し、ウィザード式の分析ワークフローは、経験のない初心者でも簡単に把握できる

➊機械学習に基づくZEN Intellesisモジュールは、従来の閾値方法では達成できなかった画像処理ニーズを容易に実現する

➊粒子統計分析、多孔性、含有量百分率、層厚測定、結晶粒度評価などの豊富な測定機能

量子化解析インタフェース-二値化分割

金属溶接位置の孔径解析及び含有量解析

多様な測定ニーズを満たす高級測定

含有率

結晶粒度評価

りゅうしぶんせき

多孔率解析

蔡司知能走査電子顕微鏡ソリューションはあなたの多様なニーズを満たしており、蔡司顕微鏡微信公衆番号（ZEISSMIK）に注目して蔡司知能走査電子顕微鏡の生命科学、材料科学、金属業界及び電子業界の4つの分野のソリューションを理解することができます。