ファーウェイ技術者と我が社は誘電率購買プロジェクトを交流購買し、2ヶ月間の交流を経てついに確定した

LJD低周波数ぜつえんざいりょう介（かい）でんきていすうゆうでん品質損失試験システムはS 916試験装置（治具）、LJD型（かた）誘電率試験ホスト、構成。国家基準に基づく.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、米規格ASTM D 150及び国際電工委員会IEC 60250の規定設計製作。システムは絶縁材料の高周波誘電損失正接値（tanδ）と誘電率（ε）の自動測定の解決策を提供する。

一 本装置適用基準

1 GBT 1409-2006電気絶縁材料の工業周波数、オーディオ、高周波（米波長メモリを含む）における容量率と誘電損失係数を測定するための推奨方法

2 GBT 1693-2007加硫ゴムの誘電率と誘電損失角正接値の測定方法

3 ASTM-D 150-誘電率試験方法

4 GB 9622.9-88/SJT 11043-1996電子ガラスの高周波誘電損失と誘電率の試験方法