FE-5000 C型拡張型強誘電体テスタ（薄膜＋セラミック二機能）

FE-5000C型型拡張型強誘電性能総合テスタ

キーワード：電気ヒステリシスループ、強誘電体テスタ、電圧、周波数、電歪

一、製品紹介：

FE-5000 A拡張型強誘電性試験器は高レンジモデルの強誘電性材料試験装置であり、この装置は強誘電体薄膜、強誘電体材料（バルク材料も可）の電気性能測定に適用でき、強誘電体薄膜の電気ヒステリシスループを測定でき、非対称電気ヒステリシスループ強誘電体薄膜値を測定できる。設備は高温抵抗、高温誘電、容量-電圧曲線、TSC/TSDCなどの機能を拡張することができる。

二、主な技術指標：

1.出力信号電圧：±5000 V（拡張可能）。

2、制御印加周波数0.2から1000 Hz（セラミックス、単結晶、薄膜）PC端ソフトウェア制御カスタム設定、

3、制御出力電流0から±50 mAは連続的に調整でき、PC側ソフトウェアはカスタム設定を制御する。

5、動的電気ヒステリシスループ試験周波数範囲0.01 Hz-5 kHz

6、疲労試験周波数300 kHz（振幅10 Vpp、負荷容量1 nF）、

7.試験速度：測定時間『5秒／サンプル・温度点

8.サンプル規格：ブロック材料寸法：直径2-100 mm、厚さ0.1-10 mm

9.主な機能： ダイナミックヒステリシスループDHM、静電気ヒステリシスループSHM，I-V特性、パルスPUNDあ、疲れた疲労、電撃貫通強度BDM、リーク電流LM、電流-バイアス、保持力RM，

10、制御方式：コンピュータリアルタイム制御、リアルタイム表示、リアルタイムデータ計算、分析と記憶

11、ソフトウェア収集：自動収集ソフトウェア、分析は他の関連する主流ソフトウェアと互換性がある。

14、試験精度：±0.05%

16、電圧：±12 V

二、拡張オプションのモジュール：

印影痕IM

温度変化テストTHM

POMモジュールは分極測定機能を実現する

CVMモジュールは小信号容量試験を実現し、C-V曲線を得る

PZMモジュールによる圧電特性試験の実現

DPMモジュールの誘電特性試験

RTMモジュール試験抵抗/抵抗率性能

CCDMモジュールは容量充放電試験を実現する。